Técnicas de Caracterização, Monitorização e Reabilitação
Objetivos
-
Caracterização geral
Código
10138
Créditos
6.0
Professor responsável
Alexandra de Jesus Branco Ribeiro, João Pedro Botelho Veiga
Horas
Semanais - 5
Totais - 79
Idioma de ensino
Português
Pré-requisitos
Não há precedências.
Bibliografia
Principles of Instrumental analysis, D.Skoog & D.West,1971 Scanning Electron Microscopy, X-ray Microanalysis and Analytical Electron Microscopy; C. E.Lyman,J. Goldstein, D.E.Newbury et al. X-ray characterization of materials/Eric Lifshin (ed.).WILEY-VCH Verlag GmbH,1999 The Physics of Thin Film Optical Spectra: An Introduction Olaf Stenzel (Author), Springer; Handbook of Infrared Spectroscopy of Ultrathin Films, VP Tolstoy, I Chernyshova, VA. Skryshevsky, WileyBlackwell Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, H Fujiwara, VP Tolstoy, Wiley-Blackwell
Reddy, K., Cameselle, C. (Eds.) 2009 Electrochemical Remediation Technologies for Polluted Soils, Sediments and Groundwater. John Wiley & Sons, New Jersey, US, ISBN 978-0-470-38343-8, 732pp.
Método de ensino
-
Método de avaliação
É obrigatória a presença dos alunos nas aulas práticas, de forma a obterem frequência na unidade curricular (inclui a apresentação dos relatórios das aulas práticas). A avaliação da unidade curricular decorre da apreciação dos relatórios dos trabalhos práticos a executar e da sua discussão em cada módulo. Cada módulo intervém com uma ponderação na nota final que tem em conta o tempo usado para o ministrar. O ensino será ministrado através de aulas presenciais T/P e ensino tutorial. Aulas laboratoriais em técnicas de remediação selecionadas. Recursos em powerpoint e na internet. Incentiva-se o espírito crítico, os hábitos de consulta, as interações de grupo e a capacidade de comunicação. A avaliação será feita através da apresentação e discussão de Seminários (S) (avaliação individual) e do Projeto Final (PF) (avaliação em grupo).
Conteúdo
MICROSCOPIA ELECTRÓNICA: Microscópios eletrónicos: transmissão (TEM), de varrimento (SEM) e de varrimento à transmissão (STEM). Detetores de eletrões e de radiação X (espectrómetros EDS e WDS). Análise elementar em SEM-EDS/WDS. ESPECTROSCOPIAS ÓPTICAS: Espectroscopia de infravermelho (FTIR); de UV-Visível-Infravermelho próximo; Elipsometria espectroscópica. DRX-FRX. A espectrometria de fluorescência de raios X. NMR Introdução à Tecnologia Analítica de Processos (PAT). Biosensores Análise multivariada de dados. Desenho de experiências. Definição e identificação dos CPP''s e CQA''s. Controlo automático de processos.
Metodologia de avaliação de locais contaminadas. Técnicas de remediação de solos. Processos in-situ e ex-situ. Estado de desenvolvimento, utilização, aplicabilidade, confiança e duração. Casos de estudo e software disponível.