Análise de Superfícies
Objetivos
O objetivo desta UC é familiarizar os alunos com as técnicas baseadas em feixes de raios-X ou de partículas carregadas usadas para caracterização de superfícies e disponíveis no Departamento de Física como espectroscopias de eletrões e espectrometria de massa de iões secundários. Espera-se que integrem conhecimento ao compreenderem por exemplo a aplicação do efeito fotoelétrico ou do efeito de Auger para fins analíticos e ao estudarem a aplicação da tecnologia de vácuo e de partículas carregadas para esse fim. Desta forma, espera-se que os estudantes fiquem preparados para realizar tarefas relacionadas com equipamento analítico que use partículas carregadas e instrumentação afim.
Os alunos irão aprender também sobre a interação de partículas em sólidos e sobre as diferenças entre análise de superfícies e de materiais.
Os alunos deverão adquirir competências transversais como o desenvolvimento do raciocínio científico, integração de conhecimento e aplicação prática de conceitos físicos.
Caracterização geral
Código
12537
Créditos
3.0
Professor responsável
Ana Cristina Gomes da Silva, Orlando Manuel Neves Duarte Teodoro
Horas
Semanais - 2
Totais - 28
Idioma de ensino
Português
Pré-requisitos
Física do Estado Sólido
Tecnologia de Vácuo
Ótica de particulas carregadas
Electromagnetsimo
Mecânica Quântica
Bibliografia
Surface Science,
K.Oura, ..M. Katayama,
Springer,
ISBN 3-540-00545-5
Surface and Thin Film Analysis
Gernot Friedbacher (Editor), Henning Bubert (Editor)
ISBN: 978-3-527-32047-9
April 2011
Método de ensino
O programa será desenvolvido em torno de cada técnica, descrevendo os princípios físicos envolvidos e a instrumentação necessária. O programa será exposto através de aulas teóricas-práticas e sessão de laboratório ( XPS).
Método de avaliação
Frequência: Presença na aula de laboratório.
Teste 70%
Trabalho: (de laboratório em grupo 20% + Exercício individual 10%) = 30%
Para aprovação: ter obtifo frequência e T + Trabalho > ou igual a 10 valores.
Caso de reprovaçção: Exame de recurso.
Melhoria de nota: em exame mediante inscrição a melhoria.
Conteúdo
1. Análise de superfícies versus análise de materiais.
2. O microscópio eletrónico (SEM e TEM). Microanálise e o SEM de alta pressão.
3. Espectrometria de massa de iões secundários (SIMS).
4. Microscopia Auger de varrimento (SAM e AES).
5. Espetroscopia de fotoeletrões de raios X (XPS).