Análise de Superfícies

Objetivos

O objetivo desta UC é familiarizar os alunos com as técnicas baseadas em feixes de raios-X ou de partículas carregadas usadas para caracterização de superfícies e disponíveis no Departamento de Física como espectroscopias de eletrões e espectrometria de massa de iões secundários. Espera-se que integrem conhecimento ao compreenderem por exemplo a aplicação do efeito fotoelétrico ou do efeito de Auger para fins analíticos e ao estudarem a aplicação da tecnologia de vácuo e de partículas carregadas para esse fim. Desta forma, espera-se que os estudantes fiquem preparados para realizar tarefas relacionadas com equipamento analítico que use partículas carregadas e instrumentação afim.
Os alunos irão aprender também sobre a interação de partículas em sólidos e sobre as diferenças entre análise de superfícies e de materiais.
Os alunos deverão adquirir competências transversais como o desenvolvimento do raciocínio científico, integração de conhecimento e aplicação prática de conceitos físicos.

Caracterização geral

Código

12537

Créditos

3.0

Professor responsável

Ana Cristina Gomes da Silva, Orlando Manuel Neves Duarte Teodoro

Horas

Semanais - 2

Totais - 28

Idioma de ensino

Português

Pré-requisitos

Física do Estado Sólido

Tecnologia de Vácuo

Ótica de particulas carregadas

Electromagnetsimo 

Mecânica Quântica

Bibliografia

Surface Science,

K.Oura, ..M. Katayama,

Springer,

ISBN  3-540-00545-5

 

Surface and Thin Film Analysis

Gernot Friedbacher (Editor), Henning Bubert (Editor)

ISBN: 978-3-527-32047-9

April 2011

Método de ensino

O programa será desenvolvido em torno de cada técnica, descrevendo os princípios físicos envolvidos e a instrumentação necessária. O programa será exposto através de aulas teóricas-práticas  e sessão de  laboratório (  XPS).

Método de avaliação

Frequência: Presença na aula de laboratório.

Teste  70% 

Trabalho:  (de laboratório em grupo 20% + Exercício individual 10%) = 30%

Para aprovação: ter obtifo frequência e    T +   Trabalho > ou igual a 10  valores.

 

Caso de reprovaçção: Exame de recurso. 

Melhoria de nota: em exame mediante inscrição a melhoria.

Conteúdo

1. Análise de superfícies versus análise de materiais.
2. O microscópio eletrónico (SEM e TEM). Microanálise e o SEM de alta pressão.
3. Espectrometria de massa de iões secundários (SIMS).
4. Microscopia Auger de varrimento (SAM e AES).
5. Espetroscopia de fotoeletrões de raios X (XPS).

Cursos

Cursos onde a unidade curricular é leccionada: